10 Fabricantes de Analizadores de Fluorescencia de Rayos X (Xrf) en 2024
Esta sección ofrece una visión general de los analizadores de fluorescencia de rayos x (xrf), así como de sus aplicaciones y principios. Consulte también la lista de 10 fabricantes de analizadores de fluorescencia de rayos x (xrf) y su ranking empresarial.
Índice
¿Qué es un Analizador de Fluorescencia de Rayos X (XRF)?
Los analizadores de fluorescencia de rayos X son aparatos que analizan el contenido de elementos según el espectro de fluorescencia de rayos X cuando se irradia un objeto con rayos X.
Los analizadores de fluorescencia de rayos X se utilizan para el análisis cualitativo y cuantitativo de sustancias además de método de análisis de la composición de sustancias, ya que puede utilizarse para examinar la muestra sin destruirla.
Los analizadores de fluorescencia de rayos X pueden utilizarse para medir tanto sólidos como líquidos y, como método de análisis cualitativo, son equipos de inspección muy fiables debido a su sensibilidad relativamente alta.
Usos de los Analizadores de Fluorescencia de Rayos X (XRF)
Los analizadores de fluorescencia de rayos X pueden realizar análisis cualitativos y cuantitativos de muestras, tanto sólidas como líquidas, de forma no destructiva. Se utilizan especialmente para determinar la presencia y el contenido de metales tóxicos en materiales de aleación y suelos.
Por ejemplo, el análisis por rayos X es útil para investigar la composición de materiales de composición desconocida, como rocas y meteoritos. Recientemente, el cableado impreso se está haciendo libre de halógenos desde la perspectiva de la protección del medio ambiente y la seguridad, y los analizadores de fluorescencia de rayos X (XRF) se utilizan para garantizarlo. Otras aplicaciones incluyen la determinación cualitativa y cuantitativa de sustancias químicas peligrosas, que se utilizan para analizar las sustancias especificadas en la Directiva RoHS. También existen instrumentos portátiles que se pueden transportar fácilmente y tienen una gama de aplicaciones cada vez mayor.
Principios de los Analizadores de Fluorescencia de Rayos X (XRF)
Los analizadores de fluorescencia de rayos X miden la longitud de onda (o energía) y la intensidad de la fluorescencia de rayos X emitida cuando se irradia un objeto con rayos X.
Cuando se irradia una sustancia con rayos X, sus átomos absorben energía y se excitan, emitiendo fluorescencia de rayos X. Como la longitud de onda (o energía) de la fluorescencia de rayos X es única para cada elemento, es posible identificar el tipo de sustancia a partir de la longitud de onda del espectro de fluorescencia de rayos X detectado y cuantificarla a partir de su intensidad.
Un analizador de fluorescencia de rayos X consta de una fuente de rayos X que genera rayos X, una cámara de muestras que contiene la muestra y una unidad de detección que espectroscopia y detecta la fluorescencia de rayos X generada.
En la fuente de rayos X, los haces de electrones generados mediante la aplicación de un alto voltaje se irradian sobre un blanco, como el tungsteno, para generar rayos X. Los rayos X generados se irradian sobre un blanco, como el tungsteno. Los rayos X generados se irradian sobre la superficie superior o inferior de la muestra. En ese momento, la atmósfera de la cámara de muestras puede seleccionarse entre atmósfera, nitrógeno o vacío.
En los analizadores de fluorescencia de rayos X con modo de observación de la muestra, la posición de irradiación puede seleccionarse mientras se observa la muestra. La fluorescencia elemental de rayos X emitida por la muestra es detectada por el detector y analizada cualitativamente. En el análisis cuantitativo, se mide la intensidad de la fluorescencia de rayos X y se determina el contenido utilizando una curva de calibración o el método del parámetro fundamental (método FP).
Existen dos tipos de espectroscopia y métodos de detección para los analizadores de fluorescencia de rayos X: de longitud de onda dispersiva y de energía dispersiva.
1 Analizadores de Fluorescencia de Rayos X de Energía Dispersiva (XRF)
Los analizadores de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva (abreviados como ED-XRF, o EDX, EDS) miden la intensidad de la fluorescencia de rayos X en relación con su energía.
Concretamente, la fluorescencia de rayos X incidente en el detector se convierte en una corriente de impulsos mediante un semiconductor en el detector, se amplifica y, a continuación, se mide la altura de onda a partir del valor de corriente de un impulso. La energía de los rayos X incidentes a partir del valor de corriente es proporcional al valor de corriente, por lo que se obtiene un gráfico de la intensidad de la fluorescencia de rayos X frente a su energía.
2 Analizadores de Fluorescencia de Rayos X de Dispersión por Longitud de Onda (XRF)
Los analizadores de fluorescencia de rayos X de dispersión por longitud de onda (abreviados como WD-XRF, o WDX, WDS) miden la intensidad de la fluorescencia de rayos X en relación con su longitud de onda.
En los analizadores de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva, los rayos X emitidos por la muestra son divididos espectralmente por un cristal monocromador y medidos por un detector. Los rayos X que inciden en el cristal espectroscópico se dispersan fuertemente en una dirección determinada según las condiciones de difracción de Bragg.
Se denomina difracción de Bragg a una ley que establece que cuando la luz de longitud de onda λ incide sobre un material con una separación de red d, se dispersa fuertemente en la dirección del ángulo de difracción 2θ, que satisface 2dsinθ = nλ (θ: ángulo de Bragg n: número entero). En otras palabras, como el espaciado de caras d del cristal monocromador es fijo, sólo se detectan rayos X de una longitud de onda cuando el detector está en la dirección del ángulo de difracción 2θ, aunque incidan rayos X de varias longitudes de onda. Si se gira el detector para medir la fluorescencia de rayos X en un ángulo amplio, se puede obtener un gráfico de la intensidad de la fluorescencia de rayos X frente a la longitud de onda de la fluorescencia de rayos X.
Más Información sobre Analizadores de Fluorescencia de Rayos X (XRF)
Características de Dispersión de Energía y de Dispersión de Longitud de Onda
Los métodos de detección de energía dispersiva y de longitud de onda dispersiva tienen cada uno sus propias características y deben seleccionarse adecuadamente para la aplicación.
1 Tipo Dispersivo de Energía
Los detectores de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva no requieren espectroscopia y pueden miniaturizarse, ya que el detector semiconductor puede analizar directamente la longitud de onda de la fluorescencia de rayos X. También permite realizar varios tipos de análisis elementales a la vez sin necesidad de espectroscopia, lo que hace posible realizar mediciones en poco tiempo. Como las mediciones pueden realizarse con independencia de la forma o las irregularidades de la muestra, a veces se utilizan junto con microscopios electrónicos.
Por otro lado, presentan desventajas, como el solapamiento de los picos espectrales y la baja resolución, así como la dificultad para detectar elementos que sólo están presentes en bajas cantidades en el objeto de medición.
2 Tipo Dispersivo en Longitud de Onda
En la espectroscopia de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva, la fluorescencia de rayos X es dividida espectralmente por un cristal espectroscópico y medida por un detector. Como la espectroscopia se basa en longitudes de onda, los picos adyacentes se pueden separar fácilmente, y la sensibilidad y la resolución tienden a ser altas.
Por otro lado, el equipo en sí tiende a ser grande y caro debido al complejo sistema espectral. Además, la medición lleva más tiempo que el tipo dispersivo de energía porque el ángulo de difracción varía, y la superficie de la muestra debe ser lisa.
Lista de 10 fabricantes de Analizadores de Fluorescencia de Rayos X (Xrf)
*Incluye algunos distribuidores, proveedores, etc.
Ordenar por características
- Por defecto
- Tamaño de la empresa: de mayor a menor
- Año de fundación: de más antiguo a más reciente
- Año de fundación: de más reciente a más antiguo
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Metrohm AG
FRX - Fluorescencia De Rayos X(XRF)
Presentación de la empresa
Metrohm, fundada en 1943, es una empresa con sede central en Herisau, Suiza, y es fabricante de instrumentos de precisión para análisis químicos. Entre sus productos, destacan los tituladores, cromatógrafos, espectroscopios, medidores de pH, conductividad, entre otros. Posee clientes en más de 80 países y cuenta con 37 subsidiarias. Además, opera bajo estándares de certificaciones como ISO 9001:2015 para prácticas de gestión, EcoVadis para manejo de carbono y ACT para la protección del clima.
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Zhengzhou Laboao Instrument Equipment Co., Ltd.
Espectrómetro XRF de escritorio para analizadores de minerales
Presentación de la empresa
Zhengzhou Laboao Instrument Equipment es una empresa desarrolladora, productora y distribuidora de equipos de laboratorio basada en Zhengzhou, China. La empresa se centra en la investigación de laboratorio, las ciencias de la vida y la ingeniería biomédica. Ofrece productos que abarcan desde instrumentos de análisis químico y óptico hasta equipos médicos, instrumentos de inspección de medicamentos y alimentos. Sus productos son utilizados tanto en la industria, la investigación científica, educación, salud y la agricultura. Exporta a más de 150 países y cuenta con certificaciones de calidad como ISO9001, CE de la UE, SGS, TUV y CNAS.
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Olympus
Analizadores XRF y XRD
Presentación de la empresa
Olympus es una empresa proveedora de productos de óptica e imagen, fundada en 1919 en la ciudad de Tokio, Japón. Esta empresa se aboca a proveer productos de grado industrial de análisis de materiales e imagen, tales como microscopios, sensores, escáneres, videoescopios, entre otros. Poseen una gama amplia de cursos y capacitaciones para el uso de sus productos, brindado cursos básicos gratuitos desde su pagina web y ofreciendo opciones más elaboradas y técnicas para sus clientes.
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Xi'an Lonn M&E Equipment Co., Ltd.
Analizador XRF (Total 14 Products)
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Testek
ProSpector 3
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Jiangsu Skyray Instrument Co.,Ltd.
Analizador XRF Portátil
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Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd.
Analizador XRF portátil
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Elvatech Ltd.
Analizadores de XRF
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SciAps Inc.
Analizador XRF X-200
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Hitachi High-Tech Analytical Science
Gama de analizadores XRF portátiles X-MET8000
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Ranking de fabricantes de Analizadores de Fluorescencia de Rayos X (Xrf)
*Incluye algunos distribuidores, proveedores, etc.Ranking en España
Método de cálculo| N° | Empresa | Popularidad |
|---|---|---|
| 1 | Metrohm AG | 18.5% |
| 2 | Elvatech Ltd. | 14.8% |
| 3 | Xi'an Lonn M&E Equipment Co., Ltd. | 11.1% |
| 4 | SciAps Inc. | 11.1% |
| 5 | Olympus | 11.1% |
| 6 | Jiangsu Skyray Instrument Co.,Ltd. | 7.4% |
| 7 | Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd. | 7.4% |
| 8 | Hitachi High-Tech Analytical Science | 7.4% |
| 9 | Zhengzhou Laboao Instrument Equipment Co., Ltd. | 7.4% |
| 10 | Testek | 3.7% |
Ranking global
Método de cálculo| N° | Empresa | Popularidad |
|---|---|---|
| 1 | Olympus | 47.9% |
| 2 | Elvatech Ltd. | 37.9% |
| 3 | Metrohm AG | 3.6% |
| 4 | Xi'an Lonn M&E Equipment Co., Ltd. | 2.1% |
| 5 | SciAps Inc. | 2.1% |
| 6 | Jiangsu Skyray Instrument Co.,Ltd. | 1.4% |
| 7 | Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd. | 1.4% |
| 8 | Hitachi High-Tech Analytical Science | 1.4% |
| 9 | Zhengzhou Laboao Instrument Equipment Co., Ltd. | 1.4% |
| 10 | Testek | 0.7% |
Método de cálculo
El ranking se calcula en función a la "popularidad" de la empresa dentro de la página de analizadores de fluorescencia de rayos x (xrf). La "popularidad" se calcula en función al número total de clics de todas las empresas dividido por el número de clics de cada empresa durante el período mencionado.Empresas más grandes (por número de empleados)
- Olympus: 31,557
Empresas más recientes
- Metrohm AG: 1943
- Olympus: 1919
Empresas más antiguas
- Olympus: 1919
- Metrohm AG: 1943
